Mikroskop konfokalny Zeiss LSM 710

Umożliwia pomiary topografii powierzchni oraz badania fluorescencji. Układ wzbudzenia obejmuje lasery:

diodowy 405 nm,

argonowy 458, 488 i 514 nm,

HeNe 543 nm oraz HeNe 633 nm.

Obserwacja prowadzona jest w zakresie 400-800 nm.

Aparatura umożliwia wyprowadzenie sygnału optycznego na zewnątrz oraz podłączenie spektrometru za pomocą światłowodu, np. BlackComet firmy StellarNet lub QE65000 firmy Ocean Optics. Mikroskop wyposażony jest również w lampę rtęciową HXP 120 do pomiarów fluorescencyjnych oraz lampę halogenową do obserwacji w świetle przechodzącym i odbitym.

System posiada zautomatyzowany stolik o zakresie ruchu 130×85 mm, maksymalnym obciążeniu 9 kg oraz dokładności pozycjonowania w osi Z wynoszącej 10 nm.

Mikroskop wyposażony jest w obiektywy przeznaczone do obserwacji w jasnym i ciemnym polu, w kontraście Nomarskiego oraz w świetle spolaryzowanym kołowo C-DIC:
– EC Epiplan-Neofluar 5×/0.13 HD DIC, dystans roboczy 14,5 mm,
– EC Epiplan-Neofluar 10×/0.25 HD DIC, dystans roboczy 9,0 mm,
– EC Epiplan-Neofluar 20×/0.50 HD DIC, dystans roboczy 2,2 mm,
– EC Epiplan-Neofluar 50×/0.80 HD DIC, dystans roboczy 0,6 mm,
– EC Epiplan-Neofluar 100×/0.90 HD DIC, dystans roboczy 0,28 mm,
– EC Plan-Neofluar 40×/1.30 Oil DIC, dystans roboczy 0,21 mm.

Mikroskop jest dodatkowo wyposażony w interferometr do pomiaru grubości oraz kamerę MRc5.